求教：关于过程能力计算的迷惑
上一篇 / 下一篇 2006-07-07 13:36:27 / 天气: 晴朗 / 心情: 高兴
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评论( 19 )
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alexwong
发布于2005-11-14 10:50:38
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对于LZ的问题, 有2个概念需要澄清:
1. 判断制程是否稳定(受控), 不是基于其是否正态分布, 而是应根据制程的输出结果是否在+/-3SIGMA的上下界限中, 且其分布是随机的.
2. 如果已预知过程是不稳定(受控)的, 则应计算PPK, 而不是CPK.
同意你的说法，说的很不错
[ 本帖最后由 fqm0011 于 2005-11-19 07:38 编辑 ]
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hnzzwzh
发布于2005-11-14 11:05:52
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现在的产品更新越来越快，计算过程能力的办法也要更新才新。产品都是少量的。无法收集足够的数据来计算CPK值。
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haileyhuang
发布于2005-11-14 11:08:14
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QUOTE:
原帖由 alexwong 于 2005-11-14 10:50 发表
谢谢解答! 能否详细解释下第一点？
对于LZ的问题, 有2个概念需要澄清:
1. 判断制程是否稳定(受控), 不是基于其是否正态分布, 而是应根据制程的输出结果是否在+/-3SIGMA的上下界限中, 且其分布是随机的.
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haileyhuang
发布于2005-11-14 11:14:36
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QUOTE:
原帖由 alexwong 于 2005-11-14 10:50 发表
对于第2点，能否使用WEIULL分布去计算，或者根据当前的坏率统计来转换成CPK呢？
对于LZ的问题, 有2个概念需要澄清:
2. 如果已预知过程是不稳定(受控)的, 则应计算PPK, 而不是CPK.
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xyczluo
发布于2005-11-14 11:22:00
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原帖由 hnzzwzh 于 2005-11-14 11:05 发表
计算CPK值是基于数据的统计来计算,若产品是少量的,不必计算CPK,可计算良品率,或直通率.
现在的产品更新越来越快，计算过程能力的办法也要更新才新。产品都是少量的。无法收集足够的数据来计算CPK值。
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haileyhuang
发布于2005-11-14 13:13:10
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原帖由 alexwong 于 2005-11-14 10:50 发表
明白此点了。如果是新产品呢，根本来不及做此+/-3SIGMA的上下界限啊。
对于LZ的问题, 有2个概念需要澄清:
1. 判断制程是否稳定(受控), 不是基于其是否正态分布, 而是应根据制程的输出结果是否在+/-3SIGMA的上下界限中, 且其分布是随机的.
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aiping1314发布于2005-11-19 01:03:16
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项目完了就不用计算CPK了吗？？？新鲜！
一个项目到何时才算完，产品停产了才叫完
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sliver98发布于2005-11-23 16:29:49
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还是迷糊的很，听听
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haileyhuang
发布于2005-11-23 22:35:56
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原帖由 haileyhuang 于 2005-11-14 11:08 发表
已经理解此点。
谢谢解答! 能否详细解释下第一点？
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haileyhuang
发布于2005-11-23 22:36:59
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原帖由 aiping1314 于 2005-11-19 01:03 发表
重庆小M，或许你误解我的意思了吧。
项目完了就不用计算CPK了吗？？？新鲜！
一个项目到何时才算完，产品停产了才叫完
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蚂蚁
发布于2005-11-23 22:46:49
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原帖由 haileyhuang 于 2005-11-14 09:54 发表
计算能力的目的是什么呢？确定改善的必要性，但你发现过程竟然不受控，也就是是有特殊变异的存在，那还计算什么能力呢？赶紧改善吧。另外确定过程是否稳定用控制图来分析。另外连续数据的能力分析一般建立在受控的前提上，否则没有太大的意义。
我们知道，在计算过程能力(Cpk)时，前提条件是数据须来自于统计稳定的过程。我的问题就来了。关于统计稳定的过程，其判断的依据是根据取得的数据去判断是否正态分布，若不是，再经过Box-cox转换去判断，这里就有个矛盾了。如果不是稳定的过程，那我们是否就不需要计算CPK了呢？如果不需要，那我们在做项目时，对当前的制程能力的评估又怎么做呢？如果等到将制程改善到稳定的状态时，或许这时项目差不多就做完了，也就是说，做项目时，如果不是稳定的过程，可以不用做当前的制程能力的评估吗？
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haileyhuang
发布于2005-11-23 23:29:41
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原帖由 蚂蚁 于 2005-11-23 22:46 发表
呵呵，对啊。
计算能力的目的是什么呢？确定改善的必要性，但你发现过程竟然不受控，也就是是有特殊变异的存在，那还计算什么能力呢？赶紧改善吧。另外确定过程是否稳定用控制图来分析。另外连续数据的能力分析一般建立在受 ...
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alexwong
发布于2005-11-24 16:58:14
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原帖由 haileyhuang 于 2005-11-14 11:14 发表
WEIULL一般用于电子产品的可靠性分析, 也就是BATHTUB CURVE的前半部分(机电产品才会包括后半部分
对于第2点，能否使用WEIULL分布去计算，或者根据当前的坏率统计来转换成CPK呢？
但用于制程的SPC控制, 尚未听说有这种应用.
蚂蚁说得对, SPC是为了提供可供改善的机会所用的, 只有当一些异常情况被消除了, 只剩下随机因素起作用时, 计算CPK才是真正有意义的.
以上与LZ和各位探讨, 不当之处请指教
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alexwong
发布于2005-11-24 17:08:35
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我好像刚刚弄明白LZ的意思: LZ是指在第1次试产时如果制程不受控怎么办? 如果是这样的话, 应该评估改善行动的状况, 如果有充分的证据显示改善行动可以使制程受控, 则可以将你所计算出的超出控制限的数据取消, 再计算控制限和CPK; 如果没有足够的证据的话, 就应该做第2次试产, 直到制程受控.
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haileyhuang
发布于2005-11-24 17:54:45
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原帖由 alexwong 于 2005-11-24 16:58 发表
对，我也看过WEIULL一般用于电子产品的可靠性分析的说法，但在好几个地方也看到其用于制程的PPK计算，比如张馳的书曾经讲过，并且在一些6SIGMA实例上也看到过。
WEIULL一般用于电子产品的可靠性分析, 也就是BATHTUB CURVE的前半部分(机电产品才会包括后半部分 但用于制程的SPC控制, 尚未听说有这种应用.
蚂蚁说得对, SPC是为了提供可供改善的机会所用的, 只有当一些 ...
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haileyhuang
发布于2005-11-24 17:55:35
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原帖由 alexwong 于 2005-11-24 17:08 发表
同意这种做法。
我好像刚刚弄明白LZ的意思: LZ是指在第1次试产时如果制程不受控怎么办? 如果是这样的话, 应该评估改善行动的状况, 如果有充分的证据显示改善行动可以使制程受控, 则可以将你所计算出的超出控制限的数据取消, 再计 ...
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蚂蚁
发布于2005-11-24 18:02:56
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原帖由 haileyhuang 于 2005-11-24 17:54 发表
可以使用weibull分布计算能力，当通过物理推导或样本验证总体服从weibull分布时，必须使用weibull分布的能力计算方法，其它分布也是一样。
对，我也看过WEIULL一般用于电子产品的可靠性分析的说法，但在好几个地方也看到其用于制程的PPK计算，比如张馳的书曾经讲过，并且在一些6SIGMA实例上也看到过。
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蚂蚁
发布于2005-11-24 18:23:12
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原帖由 蚂蚁 于 2005-11-24 18:02 发表
Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Nonnormal
可以使用weibull分布计算能力，当通过物理推导或样本验证总体服从weibull分布时，必须使用weibull分布的能力计算方法，其它分布也是一样。
weibull能力分析对话框.jpg
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tiaoti11
发布于2005-11-24 22:13:02
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听说新的国标将有不同分布的数据的Cpk的计算方法.....
其实跟Minitab里的差不多.
