大家有用CPK=1.33反推过来做控制图的上下限的吗??

大家有用1.33反推过来求控制图的上下限的吗,假设所做产品的质量中心与公差中心是吻合的,这样做行吗?大家都是怎么做的。交流一下好吗?
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  • Fay (2003-12-02 08:11:22)

    做管制图,先收集实际制程数据后才算管制中心及上下限。。
    你的意思是先假设中心与规格值吻合,管制限为+/-3σ。。然后做管制图;
    管制图是可以做,但无法达到你用管制图的目的。。
    管制图不是对目标进行管制,而是对现状进行管制吧。。。
  • alexwong (2003-12-02 11:24:35)

    我做过,那是骗客户的,对制程控制并没有帮助。

    具体的算法我忘了,不过是很简单的,利用算CPK的公式反推就行了,反正只有一个变量,小学时就学过了。

    另外,不须假设2个中心线吻合,可以目前数据的XBAR做为中心线,这样做出来更接近真实(即不容易被客户识破,即便被人发现有问题也容易解释)。不过,最好不要这样做,毕竟我们是做品质,不是卖假药。。。
  • elicoer (2003-12-02 12:29:24)

    根据福特中国·上海的一位STA刘经理描述:

    X-R控制图的控制界限来自于PPK的控制界限,一般在大批量生产过程中,不可以轻易修改X-R的控制界限,除非由于有关顾客的工程变更引发PPAP的重新提交,方可更改X-R控制图的控制界限。
  • aiyiguang (2003-12-03 11:05:09)

    1、控制限与产品的规格无关
    LCL=Xbarbar-3sigma=Xbarbar-3(R/d2)/√n或Xbarbar-3(s/c4)/√n
    CL=Xbarbar
    UCL=Xbarbar+3sigma=Xbarbar+3(R/d2)/√n或Xbarbar+3(s/c4)/√n
    控制图是区分过程的特殊原因和普通原因的,不是区分合格品或不合格品的,仅仅是在计算过程能力指数时才会用到产品的规格

    2、如果过程出现异常原因时都能够正确纠正的话,过程至少会保持和以前一样,更多的可能是经过不断的改进过程变得更好。
    当过程变好时,不论你的产品的规格是否发生改变,上下控制线间的距离将变小。
    注意:尽管此时上下控制线间的距离变小了,但如果过程处于受控状态,数据超出控制线的机率是一样的。不会随着上下控制线间的距离变小而增大的。
    当过程处于稳定状态,且过程能力满足要求时。过程的改进就关注于过程能力(6δ)的提高,此时甚至连产品规格的变宽都不会引起过程的改进者的关注了。
    3、我对于控制图的一般做法(基于QS9000要求):
    在试生产阶段(即小批试制时),进行初始过程能力研究,制定计划,对要研究的过程进行连续100-300件的尺寸测量,计算上下控制线,作控制图。如果过程受控,计算Cpk,若Cpk>1.67,则该过程目前能满足顾客要求。将此控制图的控制线延长,就成为控制生产用的控制图了。若过程不受控,将过程调整至受控;如果Cpk<1.67,调整过程,使过程能力满足要求。
    至于1.33是怎么来的,我个人的理解是,当你做连续生产件的Cpk时,由于时间短,过程一般不会有偏移(在试生产或过程发生改变时做,认为是短期过程能力研究),但当你进入正式生产时,用于做Cpk而搜集数据(抽取子组)的频率就要降低了(一般是1次/天、1班/天,认为是长期过程能力研究)。一般根据经验认为这个长期过程较这个短期过程要有1.5sigma的漂移。所以,在正式生产阶段,要求Cpk>1.33,与试生产阶段要求Cpk>1.67并不矛盾。

    所以,用1.33反推过来求控制图的上下限,这样作出的控制图只能用于应付认证和欺骗客户,对生产没有任何控制和指导意义。

    以上均为我不成熟的想法,请多多指教
  • harryBen (2003-12-03 16:52:08)

    楼上的这位大哥真的给我解决了许多问题。但是在实际操作中还有一些问题想再请给指教以下。我们是做汽车配件的,大多都是数控与加工中心,但是在操作的时候,工人不自觉的会加大检验的频次,从而过度频繁的进行刀补,请问在控制图中怎样处理?你们是怎样的?谢谢!!
  • aiyiguang (2003-12-03 20:10:23)

    以下是QS9000的SPC手册中的原文:
    关于控制图的益处
    “控制图是了解过程变差并帮助达到统计过程控制状态的有效工具。控制图一般有操作人员保留在工作场地。当需要采取措施——以及不需要采取措施时,控制图可以给与操作密切有关人员提供可靠的信息。”
    关于“过度调整”的解释
    “过度调整是把每一个偏离目标的值当成过程中特殊原因处理的作法。如果根据每一天所作的测量来调整一个稳定的过程,则调整就成了另外一个变差源。”

    过度频繁的进行刀补也就是一个过度调整的问题,在控制图上就会表现为不受控。
    一般我的作法是,规定检验的频次,检验的频次就作为控制图抽取数据的频次,每检验一次(取一组数据),就在控制图上描一点,若发现不受控,则进行刀补或其他措施,若控制图受控,则认为过程正常,不需采取措施。

    控制图可以给与操作密切有关人员提供可靠的信息,帮助他们分辨出过程的特殊原因或普通原因,因此决定是需采取措施还是不需采取措施。一定要让操作人员理解控制图的作用,让现场操作人员真正的懂得用控制图来控制和知道生产,控制图才能真正的起作用。因为操作人员是对过程最了解的人,也是可以最先从控制图中发现过程是否发生改变的人。
  • harryBen (2003-12-04 17:01:43)

    非常感谢

    感谢上边的这位大哥。在实际操作中还有其他很多问题,例如在取数据计算CPK的时候,如果刀补的太频就会造成能力高于实际的机床能力。还有在测量时候还有锥度,扁丝现象,又该怎么处理呢?!!多谢请指教。下次有问题我发到你的信箱可以吗?
  • tiaoti11 (2004-8-07 00:08:03)

    应该是可以用标准值给定的方法做的。国标中就有。
    但是目标值可以给定,样本标准差是不能给定的,否则会容易失控(误报)
    这一点又和国标不同。
  • xiufeng (2004-8-31 16:03:51)

    文字归文字,很多东西可以活用;
    当最终产品特性是由多个过程共同影响的时候如要对关键特性进行分解控制时不妨用CPK=1.33进行倒推,得出相应流程对该项目的控制规格;
    我已在使用此方式对激光钻孔孔壁粗糙度进行规格设定(影响工序有激光钻孔及凹蚀),从3个多月的使用情况来看效果不错;可保证该项目最终特性合格;
  • JackyWei (2004-9-01 09:06:22)

    确实有高人啊,佩服,佩服
  • tecojiang2002 (2004-9-02 10:51:20)

    QUOTE:

    aiyiguang  在 2003-12-3 08:10 PM 发表:

    以下是QS9000的SPC手册中的原文:
    关于控制图的益处
    “控制图是了解过程变差并帮助达到统计过程控制状态的有效工具。控制图一般有操作人员保留在工作场地。当需要采取措施——以及不需要采取措施时,控制图可以 ...
    真的不错。
    其实过度控制以后,其管制用的管制图也就需要重新做调整了。每一种管制图,均被规定了取样方法,否则就是“挂羊头卖狗肉了”。
  • drinkingsnow (2004-9-04 19:15:03)

    关于刀补的问题,应该用线性回归的问题来研究
    这在几个月前我与一位朋友交流过
    并且给出了详细的计算和分析过程
    如果单纯的纳入控制图中,是不对的
    必然会造成失控
    否则就会造成工人的频繁刀补
    看来你还是没有解决这个问题
    至少在工人的心目中是这样的
    如果你能够真正解决
    他们会信服你的
    就会循你的时间而进行刀补,
    而不是自主刀补
    频繁检测和刀补本身也是一种浪费
    因为跳槽
    这些资料现在得不到了
    否则可以MAIL给你参考的
    看一个月后有没有机会了
    祝进步
  • tiaoti11 (2004-9-04 22:18:16)

    其实我们公司也有这种情况。
    我们通过调整离子束的刻蚀时间来获得需要的蚀刻深度,而刻蚀速率又在波动之中,
    所以我们目前是每个批次都有测量深度,计算得到刻蚀速率后用以调整下一个批次的刻蚀时间。(会因过度频繁调整时间而使变差变大)
    那么我们的中心线就是规格的中心,上下限是根据实际数据的变差得到。
    本来想应用EWMA图,但本人理论研究还不够深入。
    不知诸位有何高见?
  • mysterious (2004-12-10 00:46:08)

    QUOTE:

    harryBen  在 2003-12-1 05:55 PM 发表:

    大家有用1.33反推过来求控制图的上下限的吗,假设所做产品的质量中心与公差中心是吻合的,这样做行吗?大家都是怎么做的。交流一下好吗?
    想法不错,处于目前偶还是NEWER,所以还要多多学习!
  • jking (2004-12-13 15:45:57)

    想法不错可是,在执行上存在很多问题!很麻烦
  • quabest (2004-12-15 13:47:15)

    这一点对设计部门很有用
  • softiceck (2004-12-16 21:05:30)

    我样也可以吗?我没有试过呢.
  • zhongtd12345 (2004-12-18 12:31:01)

    很有意见,对设计部门很有用,但在生产当中很难做到这一点,太理论化
  • helenyuan (2004-12-21 16:12:29)

    曾经试过,UCL-LCL=T*60%.作控制界限,想一想还是有点道理的.
  • hyk (2005-1-15 20:37:43)

    确实有高人啊,佩服,佩服