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问 欧立威大师 关于MSA

字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2008-4-30 22:49    作者: happydeming    来源: 6sigma品质网

GRR应用的判断标准及误区
根据经验，6SQ上对GRR的问题可谓最多之一了，现根据实际GRR操作的经验对其判断标准及容易陷入的误区作一点陈述，希望对大家有一点用处
X-BAR图－有2条需要查看
      1要有超过50％的点落在管制界限以外，否则仪器精度相对产品变异较大
      2不同操作员之间的测量趋势应该相似，否则再现性误差较大。六西格玛品质论坛


以上为欧立威大师在之前发的关于GRR的回复

想问哈：以上俩点红色中

GRR中X-BAR图的看法：

1：是否仪器精度过高对X-BAR图也有影响
2：在选样时候选取的10个样本，是否要分布在公差的120%之间
Such as:120+/-3cm 的公差
我们选样的东西是否要分布在120+/-3*1.2范围内
另如果此制程站点的产品为超上限或者下闲的该怎么办！！！


恳求欧立威大师指点！！
谢谢！！！
我也来说两句 查看全部回复

最新回复

  • happydeming (2008-4-30 22:52:23)

    如果重复性过高

    仪器误差大的成分在那点体现

    如果没有夹具方面因素

  • 清风斜影 (2008-4-30 23:59:18)

    期待大师的经典回答............

  • zhangshishu (2008-5-01 08:19:34)

    取样时样本应该代表过程变差，也可以直接用SPC算出的过程变差计算GRR
    不一定取样要在公差之内，只要你随机取样，能代表过程变差就好
    如果的你产品有超公差，是你过程的问题，跟测量系统没关系
    我看不到图，没看到有2个红点

  • zhangshishu (2008-5-01 08:20:54)

    没有夹具因素，但仪器的振动，水平都有可以影响重复性

  • 欧立威 (2008-5-01 11:13:53)

    QUOTE:

    原帖由 happydeming 于 2008-4-30 22:49 发表
    1：是否仪器精度过高对X-BAR图也有影响
    2：在选样时候选取的10个样本，是否要分布在公差的120%之间
    Suxh as:120+/-3cm 的公差
    我们选样的东西是否要分布在120+/-3*1.2范围内
    另如果此制程站点的产品为超上限或者下闲的该怎么办！！！ ...
    看来是3个问题:
    1：是否仪器精度过高对X-BAR图也有影响
    -精度过高X-BAR图不会受影响.
    2：在选样时候选取的10个样本，是否要分布在公差的120%之间
    -抽样应该随机抽取,不要人为地剔除或选取超规品,因为我们想用样本探测过程的变异,从而了解测量系统占总的变异源的比例.人为干涉反而是在掩耳盗铃.
    3: 如果此制程站点的产品为超上限或者下闲的该怎么办！！！
    回答同2.
    为了客观地反映量测变异,通常还建议用P/T值同时进行对比.

  • pzzhang2003 (2008-5-01 11:31:46)

    本人以为图形是很粗糙的方法，只是给大家做些参考，你要想分析出具体的改进方向，需要看里面的数据表述

  • pzzhang2003 (2008-5-01 11:34:24)

    如果要看是否精度足够要参考的是NDC指标是否》5

  • happydeming (2008-5-01 22:49:54)

    谢谢您！！！！！！！！！！！！！！！

  • happydeming (2008-5-01 22:53:40)

    QUOTE:

    原帖由 欧立威 于 2008-5-1 11:13 发表

    看来是3个问题:
    1：是否仪器精度过高对X-BAR图也有影响
    -精度过高X-BAR图不会受影响.
    2：在选样时候选取的10个样本，是否要分布在公差的120%之间
    -抽样应该随机抽取,不要人为地剔除或选取超规品,因为我们想用 ...
    我还有个补充的问题要问！
    如果随机选择样本那么如果NDC不够的话！怎么办？？？
    好多书上说NDC小于5也是不合格的测量系统

    关于1问题是再加点：精度过高对R图有没影响！！！！

    大师能不能介绍基本里面有关于MSA比较好点的书！！！


    谢·！！！

  • guofenglee (2008-5-02 06:45:17)

    不懂了，精度高反而会不好，是不是相对来讲的呢

  • 欧立威 (2008-5-02 10:21:14)

    QUOTE:

    原帖由 happydeming 于 2008-5-1 22:53 发表


    我还有个补充的问题要问！
    如果随机选择样本那么如果NDC不够的话！怎么办？？？
    好多书上说NDC小于5也是不合格的测量系统

    关于1问题是再加点：精度过高对R图有没影响！！！！

    大师能不能介绍基本里面有关 ...
    如果随机选择样本那么如果NDC不够的话！怎么办？？？
    -有可能NDC不够,但是跟取样随机不随机无关,如果为了NDC好,故意人为取样,那和作假有甚分别?
    有的仪器虽然精度很高,但是因为设计时对最后一位读数进行了取整,因而缺乏了估读值而造成重复性表面上太好,R-BAR就小,NDC也小.

    精度过高对R图有没影响?
    -精度高本身是不会对R图有影响的,除非是估读值不够同上述问题造成表面上重复性太高,导致大多数点落在0上,那也是不正常的,但是这种不正常不是因为精度过高,而往往是因为估读值没有被读出,我以前就碰见这样的仪器.

  • cliffnest (2008-5-02 12:41:06)

    O大师,请教一个问题,如果样本随即抽取,那么工件-工件间的变差如果很小的话,怎么能反映出仪器对这种公差带的测量能力?
    我是初学者,请不要见笑.

  • cliffnest (2008-5-02 12:46:14)

    我接触过一些日本人编写的GRR表格,他们把公差用来代替工件之间的变差,不知道这样是否有道理?

    [ 本帖最后由 cliffnest 于 2008-5-2 12:50 编辑 ]

  • 欧立威 (2008-5-02 17:30:36)

    QUOTE:

    原帖由 cliffnest 于 2008-5-2 12:46 发表
    我接触过一些日本人编写的GRR表格,他们把公差用来代替工件之间的变差,不知道这样是否有道理?
    这个就是P/T%,和GRR%是类似的,都是为了评估量测系统变异的比例.

  • lousq (2008-5-02 20:13:32)

    QUOTE:

    原帖由 欧立威 于 2008-5-1 11:13 发表

    看来是3个问题:
    1：是否仪器精度过高对X-BAR图也有影响
    -精度过高X-BAR图不会受影响.
    2：在选样时候选取的10个样本，是否要分布在公差的120%之间
    -抽样应该随机抽取,不要人为地剔除或选取超规品,因为我们想用 ...
    关于第二点，能随机选取固然好，但我们现在有一个情况，过程分布相对于公差带的范围只有约10％， 比如过程 －50～～＋100，过程变差只有0～20，随机选取时，EV 会出现 3～5的变差，这样算出来 GRR会比较大，>30，特别的选取一些分布跨域公差带的样品，这样算出来的 GRR很小<10，
    GRR 应该是更注重与设备对于 Pass/Fail 的能力
    当然这样得出的值对于 SPC 的 有效判断可能会发生一点偏差
    代表过程变差对于 SPC图会比较精确

  • happydeming (2008-5-02 21:32:58)

    我们公司使用的是 数字显示卡尺！
    没有办法实现估读啊 ！！！

  • 欧立威 (2008-5-03 09:53:59)

    QUOTE:

    原帖由 happydeming 于 2008-5-2 21:32 发表
    我们公司使用的是 数字显示卡尺！
    没有办法实现估读啊 ！！！
    数显设备此类问题较多.
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