不是正态分布怎么计算制程能力Cpk?

最新回复

• maomaolily (2008-5-27 08:57:38)

  俺不是高手，但是還是建議一下，在minitab 中有一種功能BOX-COX，可以將非正態數據轉化為正態數據，然后在繪圖在計算CPK就OK啦。在計算CPK和Pchart數據最少要30個，我認為還是100以上才有說服力。

• ricken (2008-5-27 09:02:48)

  平面度属于形位公差,不属于正态分布.
  
  这句话有点搞不明白,形位公差与正态分布之间有什么联系吗?
  
  正态分布是表示样品之间的一个离散情形,如果你的样品在检测出平面度有一个具体的值的话,应该来说这些样品的平面度的结果还是有离散程度的,也就是说还是可以看出他们的正态分布情形的.
  
  如果你能检测出具体的平面度值,那么只能说是单边公差,那么就应与你的客户协商如何计算CPK.如果只是一个合格与不合格的测量,那么就应当用P图来计算CPK.不合格率与CPK之间是有一个数据表可查的,看看SPC手册吧.

• lengyu1190 (2008-5-27 09:11:57)

  初级会员,暂不发表个人建议及观点,学习!

• fact91 (2008-5-27 09:25:11)

  不是正態分佈只有一個原因就是抽樣數不足~背起來.....暈..

• recall007 (2008-5-27 09:57:06)

  是不是正态分布可以对测量结果进行正态性检验啊

• biaotiger1 (2008-5-27 10:04:02)

  即使总体符合正态分布
  样本有时候也不符合正态的
  所以样本量要确定，抽样方法要确定
  等等

• Sol_Sun (2008-5-27 14:15:56)

  QUOTE:

  原帖由 ricken 于 2008-5-27 09:02 发表
  平面度属于形位公差,不属于正态分布.
  
  这句话有点搞不明白,形位公差与正态分布之间有什么联系吗?
  
  正态分布是表示样品之间的一个离散情形,如果你的样品在检测出平面度有一个具体的值的话,应该来说这些样品的平面 ...

  同意，建议楼主再去学习下。正态分布和什么什么公差没有关系的。

• liphking (2008-5-27 14:37:14)

  严重同意楼上意见，什么公差都可能是正态分布:cool:

• jasonpla (2008-5-27 22:23:26)

  非常感谢，有那么点意思，我知道该怎么做了？

• jasonpla (2008-5-27 22:39:06)

  那我问一个问题，对于一般的线性尺寸，比如10+/-0.1mm,不考虑偏倚的话，正常情况肯定是公称值也就是10mm的尺寸最多，两侧依次概率减小，成正态分布。
  那么对于平面度，设计上肯定希望它的值越小越好，也就是公称值为0，因为平面度的定义就是平行与
  拟合平面，通过该平面上相距最远的两个点的两个平面之间的距离，所以没有负值。按照线性尺寸的说法，应该是公称尺寸也就是平面度为0的概率最大，两侧依次减小，（此处为单侧），然而实际上，平面度为0是不可能实现的，所以在这种状态下，都没有办法确定它分布中心在哪里，怎么能说是正态分布？
     当然，如果抽样数目足够多，比如大于30个，20组，那根据中心极限定理也是正态，那我想问的是
  这样得出来的正态有意义么?即使这样得出来一个1.33的 cpk，是不是说就万事大吉了？
     迷惑啊 ，请高人指教啊……

• Jeff_wang (2008-5-28 00:41:06)

  流程的分布中心不是由规格的标称值决定的，是流程自身决定的；而流程的波动也是这个系统决定的。平面度标称值就算是0，但设备、人员、刀具、环境、材料等因素共同影响下，流程均值一定不在0处。

• 苏曼殊 (2008-5-28 10:22:04)

  单边公差的过程能力不用CPK来衡量,要用Cpu
  
  [ 本帖最后由 苏曼殊 于 2008-5-28 10:23 编辑 ]

• jangwei106 (2008-5-28 10:45:33)

  根据要求,计算CPK是要在稳态下计算,既数据正态分布，跟什么公差没有关系的。

• zhuorson (2008-5-28 10:48:55)

  当Cpk>=1.33时，当然可以认为流程能力强。但是，决不是万事大吉咯。那只是短期流程能力的表现，你还要看看你的长期流程能力如何啊？

• 苏曼殊 (2008-5-28 11:34:09)

  QUOTE:

  原帖由 zhuorson 于 2008-5-28 10:48 发表
  当Cpk>=1.33时，当然可以认为流程能力强。但是，决不是万事大吉咯。那只是短期流程能力的表现，你还要看看你的长期流程能力如何啊？

  这话有何依据?
  首先所谓流程能力这种表述不太严谨,其次长期短期这种说法的误导性在坛子里已经讨论得有点泛滥了,再次PPK和CPK的应用场合不同,评价过程能力一般还是综合CP和CPK来吧,PPK一般是用在出货检验,过程不稳定时的一种估测,你说呢?

• zhuorson (2008-5-28 11:57:01)

  Cpk是流程的“潜力”，是短期内制成的能力的表现。但由于其他因素的影响，长期内的制成能力是小于Cpk的。
  至于，长短期的说法，只是通常概念上理解，如要深究，可以参考一下“Within”和“overall”的区别。
  欢迎指正。

• jasonpla (2008-5-31 17:54:52)

  告诉大家我们目前的做法，我们客户也认为平面度不适合跑Cpk,
  所以客户要求我们对所有的产品进行平面度的全检，只要小于0.1mm,
  Ok, 这样虽然浪费人力，物力，不过也没什么好的办法。有人曾经建议用P-Chart, Pn- Chart ，不过不知道这种方法怎么样，有了解的么，介绍一下，非常感谢。

• jasonpla (2008-5-31 17:59:13)

  QUOTE:

  原帖由 ricken 于 2008-5-27 09:02 发表
  平面度属于形位公差,不属于正态分布.
  
  这句话有点搞不明白,形位公差与正态分布之间有什么联系吗?
  
  正态分布是表示样品之间的一个离散情形,如果你的样品在检测出平面度有一个具体的值的话,应该来说这些样品的平面 ...

  通过P-chart的统计，从SPC手册中查出Cpk,一语中的，谢谢这位兄台，看来我得有时间多研究研究
  手册了。

• rhzhong (2008-8-19 17:29:48)

  我觉得平面度算CPK不合适，我就从来不对形位公差进行Cpk计算。

• larry (2008-8-19 18:18:47)

  给你们一个权威的回答
  1.形位公差在SPC理论中的确不是正态分布，属于pearson分布。
  2.形位公差也是可以算过程能力的，即算Cpk，用pearson分布可以算出来的，具体去问开发SPC统计软件的，他们最清楚。我还可以告诉的是就是连行为公差里面的位置度也是可以算Cpk的，不过相当复杂，没有软件是办不到的。
  
  在争论这个问题还有意义吗，论坛里面N多关于这个的话题。