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请教:Laser chip, diode, module的失效标准如何定

字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2008-6-07 00:28    作者: AOIQA    来源: 6sigma品质网

我公司是做laser chip,laser diode,laser module的. 现想通过Accelerated Aging测试,计算MTTF. 在如何确定产品失效的标准上,QA的和研发的人出现了不同意见. 研发的人设定产品的end of life threshod电流的测试前后的变化超过50%才算失效. 但QA的人说,大部分公司都是20%就算失效了.
目前,我们这个行业用的都是Telcordia GR468. 但根据Telcordia GR468,失效的标准可以企业自己定. 想请教各位高手.有没有什么其他标准可以具体规定了end of life threshod? 或高手们你们自己是如何做的?
先谢谢!
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  • cc20061212 (2008-6-10 14:34:00)

    激光器加速寿命试验end of life threshod 应该是阈值电流增大50%，其它环境实验的pass/fail criteria应该是阈值电流增大20%，468里面是没有明确规定。

  • AOIQA (2008-6-10 23:32:41)

    想再请教一下2#, 除了GR 468, 有其他什么标准或资料可以作为参考?

  • cc20061212 (2008-6-11 10:48:45)

    有啊，看你是什么产品了，光无源器件可以参考GR-1221-CORE, 单模光纤连接器可以参考GR-326-CORE, 这两个标准里面明确规定了Pass/Fail,不过是对无源器件的

  • AOIQA (2008-6-11 22:47:22)

    我们的产品属于光纤的主动元件, 是DFB和FP的Laser chip and Laser Diode, 有源.
    请教cc20061212: 有源器件应该参照什么标准呢? 谢谢

    [ 本帖最后由 AOIQA 于 2008-6-12 00:10 编辑 ]

  • 豁飘 (2008-6-11 22:53:15)

    路过，学习啦~~~~~~~··不是这个专业的

  • cc20061212 (2008-6-12 10:50:42)

    有源器件就是参考GR-468-CORE啊,其它的像GR-3013-CORE 和468差不多,只是针对寿命要求低的主动元件.

  • AOIQA (2008-6-12 23:44:09)

    QUOTE:

    原帖由 cc20061212 于 2008-6-12 10:50 发表
    有源器件就是参考GR-468-CORE啊,其它的像GR-3013-CORE 和468差不多,只是针对寿命要求低的主动元件.
    cc20061212:你有GR-3013-CORE标准吗? 我找了很久都没找到. 如果有的话,可否发给我,我的email是winnie_teddy@hotmail.com，谢谢！

  • cc20061212 (2008-6-13 16:49:13)

    不好意思，我只有该标准的目录，也没详细的标准！
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