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字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2008-6-10 20:09 作者: kingcui 来源: 6sigma品质网
QUOTE:
原帖由 kingcui 于 11-6-2008 21:02 发表 但是两种方式算出来的上下限是不一样的
最新回复
kingcui (2008-6-10 20:46:34)
Jeff_wang (2008-6-10 22:00:31)
kingcui (2008-6-11 21:02:02)
kingcui (2008-6-11 21:11:58)
UCL=CL+3sigma [ 注:此处的sigma 是样本匀值的标准差,即σx(bar)=σ/√n ]
因为 σ 未知,是用极差R(bar)来估计的,即3σx(bar)=3σ/√n = 3R(bar) / d2√n = A2R(bar) [ √n 是根号n的意思
也就是说A2 = 3 / d2√n [ 不用计算,直接查表即可 ]
这个解释对吗?
Jeff_wang (2008-6-12 00:19:13)
QUOTE:
计算出来的控制界限不同,是因为两者都是对过程sigma的估计。真正需要注意的是,你的控制图中sigma是如何计算的。控制图的原理是使用组内变差StdDEV(within)的3倍来构造控制界限(Xbar图),以此来辨别和发现流程均值的变动是否是由系统原因造成。如果均值变动的变差被组内变差覆盖,则认为均值的变动原因与组内变动原因是一致的,流程不存在系统原因影响,也就是统计受控。
新速龙 (2008-6-15 22:54:26)
joe.zhang1985 (2008-6-16 10:46:31)
其实两种方法的目的都是一样的,就是尽可能的接近真实sigma的值。
个人认为,在日常批量生产的控制中,用第二种方法。而如果做一定批量的试生产分析,用第一种。
或者,最终研究结果作cpk的,用第二种方法。而作ppk,则用第一种方法。
lengyu1190 (2008-6-16 11:29:40)