我在实际应用SPC时遇到一些问题，特想各位请教。
背景：
我们公司在做SPC的时候，应用的计算公式与TS手册上面的还不太一样，自己搞了一个内部手册，主要是计算控制限的时候公式不一样。
TS手册要求的计算公式如下：
UCL(R)=D4*R
LCL(R)=D3*R
UCL(X)=X+A2*R
LCL(X)=X—A2*R
这里面其实单边公差也是可以计算出均值和极差的控制线的，因为计算过程与公差无关。
我们公司的计算公式如下：
UCL(X)=C+2.58×（样本标准偏差）/（样本容量n的平方根）
LCL(X)=C-2.58×（样本标准偏差）/（样本容量n的平方根）
其中C=（USL+LSL）/2
（这个上面你不能输公式，不知道这个公式表达清楚没有？）
现在就有一个问题，如果是单边公差的特性（如粗糙度Ra），不存在LSL，即无法得出C，那如何计算控制限呢？
那书上说推荐用pearson图，但是没有具体介绍，各位大虾，有知道什么是pearson图吗？
有相应的计算公式吗？
声明：不存在LSL绝不等价于LSL=0
极差的算法和TS手册差不多。
[ 本帖最后由 larry 于 2008-7-3 18:11 编辑 ]
最新回复
larry (2008-7-02 22:05:56)
那我先给大家交流一下按照TS的要求单边公差怎么做？
声明一下，我是汽车行业的，涉及机加工比较多，我指的单边公差多数是指一些形位公差，比如位置度，圆度，粗糙度，直线度等
这里都有一个特点，理论值是0，即值越接近0越好，不可能出现负值。
按照TS的要求以及上面的公式，单边公差的R图是可以算控制限的，并且上下限都有。
但是均值X不能计算下控制线，也不要计算目标值（中心线），他的目标值就是0.按照上面公式计算计算上控制限就可以了。同时判异原则有相应的变化，可以同你的客户商量确定，一般来说就只要一个判异原则，那就是点超出上控制限。
计算过程能力时，不能算Cp,算了也没意义，只能算Cpk。
我的理解就是这样的，希望大家指正。
Jeff_wang (2008-7-02 22:44:52)
dutianyu (2008-7-02 23:43:15)
georgecho (2008-7-03 09:40:28)
QUOTE:
我觉得对于单边公差，中心线还是有的，就是过程的平均值。尽管形位公差的只会有上限，目标值是0，加工过程也没有办法将形位公差值做成显著的偏态分布，哪怕有办法做成指数分布（目标值0处概率最高，上限处概率最低），随组内样本量的加大，各组平均值也会越接近正态分布。
Xbar图不是控制X单值，而是对各组平均值作控制，总平均值对于控制单值可能没有意义，但控制各组平均值仍然是有意义的。
既然总平均值对应的中心线有意义，那么8个判异准则都有意义，总平均值没有意义的话，准则1、2、3、4仍然可以使用，只有当使用非正态形式直接作控制图，准则1才是唯一选择。
larry (2008-7-03 18:17:09)
今天打电话问了QDAS公司的专家，说我们公司的计算方法不对，不应该用C代替X-bar来计算控制限。
georgecho (2008-7-03 19:37:20)
但是对pearson图，我是一无所知。
对常规控制图来说，产品规格（公差）用不上的。Cpk等计算才会用上。
预控制图使用的控制限使用了公差，但是它使用的前提决定了它不会被广泛使用。
jinglilf (2008-7-03 20:21:33)
UCL(R)=D4*R
LCL(R)=D3*R
UCL(X)=X+A2*R
LCL(X)=X—A2*R
只是Cp的计算方法不用双边公差的那种T/6s方法.但说实话,双边公差的Cp另外一种方法不就是把它作为两个单边公差对待,分别求出Cp值,然后比较出其中的MIN值就是双边公差的Cp 值吗?
希望可以和大家一起探讨.
larry (2008-7-03 21:15:15)
QUOTE:
你这个只是那样想的，没有理论根据的。所以不能操作的