SPC中关于单边公差以及均值控制限的问题

各位大虾：
我在实际应用SPC时遇到一些问题，特想各位请教。

背景：
我们公司在做SPC的时候，应用的计算公式与TS手册上面的还不太一样，自己搞了一个内部手册，主要是计算控制限的时候公式不一样。
TS手册要求的计算公式如下：
UCL(R)=D4*R
LCL(R)=D3*R
UCL(X)=X+A2*R
LCL(X)=X—A2*R

这里面其实单边公差也是可以计算出均值和极差的控制线的，因为计算过程与公差无关。

我们公司的计算公式如下：

UCL(X)=C+2.58×（样本标准偏差）/（样本容量n的平方根）
LCL(X)=C-2.58×（样本标准偏差）/（样本容量n的平方根）
其中C=（USL+LSL）/2
（这个上面你不能输公式，不知道这个公式表达清楚没有？）

现在就有一个问题，
1.如果是单边公差的特性（如粗糙度Ra），不存在LSL，即无法得出C，那如何计算控制限呢？

2.那书上说推荐用pearson图，但是没有具体介绍，各位大虾，有知道什么是pearson图吗？
有相应的计算公式吗？

3.如果是双边公差，以上两种算法有什么不同吗？
我只知道一种基于过程均值的均值来算，一种是基于特性的公差中心（即C=（USL+LSL）/2）来计算。
但具体有什么不同，望各位指教！

声明：不存在LSL绝不等价于LSL=0

极差的算法和TS手册差不多。