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一个关于MINITAB的奇怪问题!

字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2008-8-11 17:51    作者: speff    来源: 6sigma品质网

大家好!我是个新手,今天在做CPK分析的时候发现,收集了50个数据,分10个子组,每个子组5个数据.作出X^-R图,显示异常(连续9点在同侧),随后做cpk,竟然2.33>1.67,显然很好!!!
这正常吗?
还有据我所知,从cpk越高越好,可是我作出来经常>2,有时候达到10以上,是我做错了吗?
还望各位大侠赐教!谢谢!
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最新回复

  • xiao_dong8888 (2008-8-11 20:47:00)

    这点你的使用方法没有错误吧，还有你的数据分布状况怎么样，是不是可以作一个直方图来看一下分布，还有你的数据真实吗，确定一下，如果两点都没问题，你们就太牛了...

  • dgqh (2008-8-11 21:02:45)

    做Xbar-R图前先确定数据：
    1.数据独立    游程检测
    2.正态分布    正态检测

  • camper2002 (2008-8-11 21:30:55)

    请问你的CPK是如何计算的，还有一点，控制图和规格界限没有关系，只和管制界限有关系，所以其和CPK也没有直接关系。SPC只是研究制程是否受控的问题，和制程能力没有关系，所以可能一个制程能力很差但是是受控的，也有可能一个制程能力很好是不受控的，二者没有直接关系。我们在做SPC时先进行制程能力分析主要是为了避免出现制程受控但是能力很差的情况，这样的SPC是没有意义的，所以现在更先进的是预控制图和规格界限直接挂钩。

  • speff (2008-8-12 09:59:29)

    那么说来，这种现象是正常的咯？
    谢谢！


    cpk.jpg

  • bailix (2008-8-12 19:58:04)

    做Xbar-R图前先确定数据：
    1.数据独立    游程检测
    2.正态分布    正态检测
    cpk=2就是6s水平了。

  • ybz5369762 (2008-8-14 23:17:51)

    过程能力受到规格限和过程变差两部分因素的影响，cpk很大一方面可能过程变差小，另一方面可能是规格限设置的太大。
    你的计算有几个问题
    1、只有10组数据，太少，至少20组以上，通常取25组（足够的数据才可以看出是否受控，数据量小判断出现的风险会很大，25组比较合理）
    2、计算cpk 的前提是过程要稳定受控，数据要服从正态分布，你的数据不受控。

  • renshanlu (2008-8-15 00:37:53)

    建议你将50个数据分成25组，再做控制图，用8大原则判断控制图是否稳定无异常，只有控制图受控了，计算Cpk才有意义。

  • frozencold (2008-8-15 08:56:47)

    这说明你的规格范围比你产品本身的变异小得多。
    另外，你做SPC时的分组可能会有些问题，导致9点在同侧。
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