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字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2008-8-16 17:53 作者: kumazhou 来源: 6sigma品质网
QUOTE:
原帖由 zouwangbin 于 2008-8-18 10:48 发表 不用分析CPK了,光从数据和规格就可以看出你测量系统分辨力不足。 你目前的测量系统只能判断是否允收,------对这句话我好像不太理解,请楼上分析下! 另对LZ的问题也期待中
原帖由 白开水 于 2008-8-18 13:47 发表 你的分辨率只到小数点后3位,但是公差的范围也是小数点后3位,这样分辨率有点问题,改个能分出小数点后4位的测量设备来测量
原帖由 hyc1754 于 2008-8-18 14:04 发表 量具的分辨率必须
untitled.JPG
最新回复
shenjun (2008-8-16 18:10:04)
kumazhou (2008-8-16 18:47:22)
kumazhou (2008-8-17 19:17:46)
vstone (2008-8-17 19:48:43)
你目前的测量系统只能判断是否允收,测得的结果作为计量型数据进行统计分析价值不大,但可以以庞大的样本量进行计数型的数据分析。
[ 本帖最后由 vstone 于 2008-8-17 19:56 编辑 ]
kumazhou (2008-8-18 10:13:45)
0.194 0.194 0.194 0.194 0.194 0.195 0.193 0.194 0.194 0.195
0.194 0.195 0.195 0.193 0.194 0.194 0.194 0.193 0.195 0.194
0.194 0.194 0.194 0.194 0.194 0.195 0.194 0.194 0.194 0.194
0.193 0.193 0.195 0.194 0.195 0.194 0.193 0.194 0.194 0.195
0.194 0.194 0.194 0.194 0.194 0.194 0.194 0.195 0.193 0.194
规格0.194+-0.002
如果增加到50个呢?
zouwangbin (2008-8-18 10:48:19)
你目前的测量系统只能判断是否允收,------对这句话我好像不太理解,请楼上分析下!
另对LZ的问题也期待中
白开水 (2008-8-18 13:47:08)
QUOTE:
你的分辨率只到小数点后3位,但是公差的范围也是小数点后3位,这样分辨率有点问题,改个能分出小数点后4位的测量设备来测量hyc1754 (2008-8-18 14:04:07)
QUOTE:
量具的分辨率必须<=10%*公差=10%*0.004=0.0004所以需要一件分辨率小于0.0004的量具才能保证数据可以分析Cpk
sqqdss2007 (2008-8-20 11:47:39)
yellowfeox (2008-8-20 16:01:01)
QUOTE:
请问这个规定是从那个地方出来的?因为我们公司现在就存在这个问题,一个真空注液机,我们的规格是2.53+/-0.03,而我们所用的天平为0.01精度,所以我们所收集的数据永远在CPK分析时都是不合格的,而且连规格都不能满足,而在我做了注为液机工程能力评估后证明注液机是没有问题的,所以我想说服老板买分析天平!所请问可不可以告诉我这句话来自什么地方?我好做个报告给我的老板????????/不甚感激涕hyc1754 (2008-8-20 16:40:12)
它们都解释了R%R的基本原则,10%就是从这里得出
FIAT-GM的MSA程序文件有要求<=5%
两份东西里相关部分我切下来了:
[ 本帖最后由 hyc1754 于 2008-8-20 17:01 编辑 ]
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alexwee (2008-8-22 13:47:49)
1.测量系统可以接受
2.过程输出服从正态分布
3.过程统计受控
回答:
1.如上例子的公差+/- 0.002实际测量结果都只有1为小数,起码测量系统分辨率不足
2.10个样本不能检查过程是否服从正态分布
3.10个数据没有办法判断过程是否统计受控
黑带梦 (2008-8-22 15:55:42)