SPC高手(P图)请进

今天有空,做P图判定公司某一产品的质量稳定情况,样本为每一批号投入量(固定样本),不合格数为所有工序累计的不合格品,图一为所有不合格P图,图二为某一确定缺陷的不合格数。图表如下,请高手如何解释这一情况,以及如何对策,谢谢呵。


不良品数(pcs) 的 P 控制图.jpg



折痕 的 P 控制图.jpg


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最新回复

  • interant (2008-8-28 15:07:35)

    还做什么控制图啊,根本没到那个阶段。先做个排列图,鱼刺图解决问题吧。
  • clarkhe (2008-8-28 15:10:57)

    建议LZ先查查下面图形所对应因素产生突发异常的原因.看你下面那个图形, 应该可以得到有效控制的.
  • 鼯鼠幽灵 (2008-8-28 15:20:24)

    这么多点超出上界,有意思嘛? 台阶
  • lvhh1 (2008-8-28 15:35:05)

    1.要先看具体数据
    2.控制上下限是不是自己输入了而非计算机计算的
  • gqy18 (2008-8-28 15:37:52)

    先找出突发点的问题,可能是生产的条件出现状况.然后去分析其他稳定状态的点,或许是加工工艺或者产品设计存在差异.
  • haifeng1205 (2008-8-28 16:01:00)

    1.要先看具体数据
    2.控制上下限是不是自己输入了而非计算机计算的
    转载请注明出自六西格玛品质论坛 http://bbs.6sq.net/,本贴地址:http://bbs.6sq.net/viewthread.php?tid=190066
  • renshanlu (2008-8-28 21:54:28)

    先做分析控制图,等将异常的问题解决了再说。从你现在的图来看,你的总不良率有逐步升高的趋势,而折痕的不良率有逐步降低的趋势。在做控制图时,可以先用runchart看看趋势。
  • wyhhd (2008-8-28 21:59:05)

    我是做体系的,因为和QCC有关,所以计算一下P图。图表是用MINITAB计算了,用EXCEL也验证了,没问题的。

    又验证其它比较稳定的产品,基本都是有三分之一以上的超限点。可惜,连把这个异常报告出来的途径也没有,谁让负责体系呢。

    只好运用私人关系,看能不能收集一些数据分析哪些工序不稳定了。
  • atp4210 (2008-8-28 22:20:37)

    1、28个批次都是同一生产线的吗?
    2、哪些因素会引起这么大的波动,是否包括了操作工人的因素?
    3、计算控制线要剔除异常点、要有足够的数据的,否则控制线没意义
  • verdy (2008-8-30 20:51:58)

    从图上看,过程非常不稳定,如果推SPC的话,目前的阶段就是分析用阶段,通过改进过程使过程趋于稳定,如果过程不稳定的话,这种图是常见的,也是正常的。
  • Cliff-Gu (2008-9-02 10:36:23)

    顶 顶 顶 顶 顶 顶 小芝麻
  • wenzi (2008-9-02 11:22:14)

    控制界限是怎么 得到的??
  • 质量无罪 (2008-9-02 13:21:52)

    欧阳大师曾经对此问题有一个精辟的解答.
    从图上来看,好象是过程不受控,而实际上你的过程可能是受控的,只是控制图有的时候会误导别人.
    在做P图的时候,对N有一个限制,通常取1/P<N<5/P.
    另外,P图很重要的一点就是,必须是过程的,要把某时间段的数据取出来,而不是一大段的时间取出来,如连续的某10分钟的数据,而不是某天的数据积攒起来做P图.
  • maozj_2006 (2008-9-03 19:28:42)

    从图上看,过程非常不稳定,如果推SPC的话,目前的阶段就是分析用阶段,通过改进过程使过程趋于稳定,如果过程不稳定的话,这种图是常见的,也是正常的。
  • fiters (2008-9-03 19:44:28)

    大眼一看,大部分都超出管制线了..是应该好好的管控哦.但这种现象也是比较正常的.
  • zhaijian2001 (2008-9-23 09:45:21)

    可能掺杂了不同项的数值吧~同一个类别的值不可能差别这么大吧~~
  • oxmhjf9975 (2008-9-23 10:06:35)

    同意14楼的说法,这样理解思考应该更加符合SPC的使用要求。
  • maodi (2008-9-25 10:15:21)

    P图/nP图是针对离散数据的控制图,要求离散数据服从二项分布。
    二项分布定义:进行 n 次重复试验,出现“成功”的次数的概率分布称为二项分布。

    需要提的是:二项分布与贝努里试验有关,贝努里试验具有如下属性:
    1)试验包含了n 个相同的试验
    2)每次试验只有两个可能的结果,即“成功”和“失败”
    3)出现“成功”的概率 p 对每次试验结果是相同的;“失败”的概率 q 也相同,且 p+q = 1
    4)试验是相互独立的
    5)试验“成功”或“失败”可以计数;
    如果上述前提不能满足,此时应用P图就是不正确的。回过头去看看P图控制限是如何计算的?其基本假设就是二项分布,如果这个假设不成立,其控制限计算也就是错误的。
    典型的问题有:
    问题1:n次试验中,各次试验的p值并不相同。  比如将不同班次、不同产线出来的产品,人为拼在一起。 如果不能保证各班次或者各产线其固有的P值相同,那么混在一起就会出问题。
      比如
      产线1固有的不合格率为P1,试验次数是n1,产线1内各产品成为不合格的概率均为P1;
      产线2固有的不合格率为P2,试验次数是n2,产线2内各产品成为不合格的概率均为P2;
      在P1=P2的情况下,将产线1和产线2的数据放在一起构成1Group,这个时候,Group内部各产品成为不合格的概率依然是相等的,因为P1=P2;
      而在P1≠P2的情况下,将产线1和产线2的数据放在一起构成1Group,这个时候,Group内部来自产线1的不合格概率为P1,来自产线2的不合格概率为P2,就无法保证Group内部每个产品成为不合格的概率相等的条件,基于Group的数据实际上就不是二项分布的。
      所以,P图应尽可能针对同一产线,同一批次来制作,目的是尽可能保证 n次试验中,出现“成功”的概率 p 对每次试验结果是相同的。

    问题2:n值太大,导致P图误发警报。
      p图的控制限:p±3Sqrt(P(1-P)/n)——说明一下,实际公式中不是P,而是P-bar,上面一横打不出来;
      n越大,控制限间隔就越小,当n大到一定程度,上下控制限就几乎重叠了,这个时候P图会误发很多警报。上面14楼,提到对N的要求,我想与这个也有点关系。

      此外n太大,还会引发其他问题:   
      a)比如对于产品合格与否需要靠人工一个一个检验来判断,那么可能就需要很多人来检验,这个时候就带来的测量系统一致性的问题,即如何能保证不同检验员判断的一致性,如果不能保证一致性,会导致不同产品判为不合格的概率不同。
      b)再比如,产品的检验结果会随着时间出现变化的情形,如果n很大,就可能带来检验的时间跨度增加,上午检验可能是合格的,而如果等到下午检验就会不合格。这两种情况不一定会碰到,但是还是要提醒一下。
    问题3)n次试验中,各次试验并不独立。假如火炮的打击精度与炮管的温度有关,连续设计的火炮,每发一炮,其炮管温度都会上升,都会影响到续发炮的精度,这个时候各次发炮之间其实是不独立的。
    以上个人见解,供参考。

    [ 本帖最后由 maodi 于 2008-9-25 10:19 编辑 ]
  • 烟头灭了 (2008-9-26 08:50:55)

    首先通过现场管理将Outlier的原因找出来,这类原因我们可以称异常原因,针对这些异常原因进行改善然后标准化
    或者,可以考虑收集更多的数据看一看,搞不好,你的制程是稳定的,只是说非常烂的状态下的稳定