计算Cpk时，上下限怎么定？[原创]

最新回复

• fxl_2k (2003-6-09 22:18:29)

  应该是上、下规格线

• 陈旭东 (2003-6-10 10:51:21)

  不知道你说的上、下限是什么？计算CPK时应该使用规格上、下限。

• franknok (2003-6-10 10:53:43)

• 陈旭东 (2003-6-10 11:06:29)

  如果你没有现成的规格上、下限及标准规格，你可以根据一段时间稳定生产时的符合要求的产品的规格进行统计得出平均值、标准偏差。
  规格上限/下限=平均值±3*标准偏差
  上述方法是我们现在使用的，如有错误请各位高手不吝赐教，谢谢！

• yjf-yjf (2003-6-10 11:35:44)

  不是,上控制线和下控制线是根据过程能力来确定

• nisky (2003-6-10 16:38:05)

  计算CpK时用的是upper tolerance和lower tolerance。

• LDQRNR (2003-6-10 19:12:05)

  问题阐述的不太透彻！

• chenny (2003-6-13 13:02:22)

  肯定不是规格的上下限，应该是在稳定过程的算出的sigma的三倍加平均值做为上限，平均值减3倍singma做为下限，要不如果你的机器CPK很高，公差又很大的话所有的点都集中在中部的话也是一种不正常分布

• alexxu (2003-6-13 13:37:08)

• stephenSun (2003-6-15 19:35:47)

  Upper torlerance ( upper engineering specification ) and lower torlerance (lower engineering specification)

• honesty (2003-6-15 21:37:43)

  上下限的确定，与过程能力和要求有密切的联系
  不能完全按照理论的计算和个人的期望
  也就是说，给自己一个可接受的水平

• zsst (2003-6-16 10:27:51)

  就是spec 上下限.

• arelene (2003-6-16 14:24:06)

  QUOTE:

  Originally posted by yjf-yjf at 2003-6-10 11:35:
  不是,上控制线和下控制线是根据过程能力来确定

  错了，他指的是计算CPK是所使用的上、下限，应该是我们所定的规格上、下限。

• soogoo (2003-7-14 22:19:40)

  是啊，我还是稀里糊涂的

• jeffzhou (2003-7-16 16:21:25)

  cpk=(1-ca)*cp 單邊規格時cpk=cpu=cpl取小值。計算cpk是不用規格的

• cldq (2003-7-16 16:28:51)

  CMK如何计算?
  如何用CPK值判断过程能力所处水平?

• FLC (2003-7-16 17:17:11)

  陈旭东你说的
  “规格上限/下限=平均值±3*标准偏差”是制作X/R图的规格上限/下限吧
  有错误请各位高手不吝赐教，谢谢！

• leisure (2003-7-16 19:40:00)

  就是规格上下限

• 虫子和猪猪 (2003-7-17 08:19:19)

  规格界限是顾客的要求，它是判定产品是否合乎规格的依据。在大多数情况下，规格界限并不应用于统计学，不绘制在控制图上，也不应该出现在控制图上。控制线作为在改进循环中进行得比较早的过程能力研究的一部分而被计算出来
  控制线
  控制线是控制图的边界，它是判定过程是否处于统计控制状态的基础。它可从过程数据中计算出来。控制图和控制线可用于判定过程是否处于统计控制状态。为了对过程进行预测及有一个有意义的Cp 和Cpk ，过程必须是稳定的。

• paullong007 (2003-7-17 10:43:23)

  同意楼上的说法