如果CPK过高,如大于3,应如何考虑SPC?

如果CPK过高,如大于3,应如何考虑SPC呢?
这个时候还有必要按原来的指标做SPC吗?
我想可以延长时间间隔,或者放大UCL和LCL,但不知道如何做才合适,希望得到各位大虾的指导,先谢谢了
我也来说两句 查看全部回复

最新回复

  • 欧立威 (2003-6-16 09:45:55)

    QUOTE:

    Originally posted by zhu_x at 2003-6-15 10:59 PM:
    如果CPK过高,如大于3,应如何考虑SPC呢?
    这个时候还有必要按原来的指标做SPC吗?
    我想可以延长时间间隔,或者放大UCL和LCL,但不知道如何做才合适,希望得到各位大虾的指导,先谢谢了
    你说的SPC是指管制图吧?
    我不知道你所遇到的具体的情况,但就UCL和LCL而言,不存在什么放大,这是由过程的本身所决定的。
    我们在实施一个特性值的管制图之前,通常要作一个Pre-Control chart,并由此来计算确定正式管制图的管制上下限,如果一段时间后,你发现过程能力很高>3,这个时候你就可以重新计算管制图的管制上下限,甚至减少检测频次,如果你的检测成本很高的话,否则我不建议你改动原先管制图的抽样方案,因为毕竟管制图是为了防止特殊原因变异的嘛!
  • shirley (2003-6-16 10:12:39)

    不可能这么高吧?
    是不是计算有什么地方有失误
  • Roger (2003-6-16 10:55:22)

    actually, CPk could be as high as 6+, as the spec tolearance is different, normallly Cpk we are talking is about mechinary industrial,but by introducing the Cpk to other area ( electronic componts, the Cpk could be very high And the tolerance means loose.
    For Cpk >6, you may control your limite tighten, or have your design engineers change the spec, to get it tighter. Normally it is good for your company as your defect rate is almost Zero. but, on the other side, the products you provide may be  over your cusotmer expectation. You bring the process improvement cost to you customer which may not need them. ( Cpk>1.5 is means 3.4PPM defects, you may calculate Ckp>6 how less opportunity to get defects.)
  • zsst (2003-6-16 11:02:36)

    我覺得如果你的CPK > 3.0
    這表明你的工序能力值已很高.可以考慮延長檢驗頻率.另外也可以減少你的檢查工時. 這樣應該更有利于品質成本. 而且你的過程能力也是很穩定的.
  • verry (2003-6-16 11:14:56)

    应该缩小公差,这才能持续改善,持续提高。
  • zhu_x (2003-6-16 12:38:21)

    QUOTE:

    Originally posted by oliven at 2003-6-16 09:45 AM:
    你说的SPC是指管制图吧?
    我不知道你所遇到的具体的情况,但就UCL和LCL而言,不存在什么放大,这是由过程的本身所决定的。
    我们在实施一个特性值的管制图之前,通常要作一个Pre-Control chart,并由此来计算确定 ...
    也许我在这个地方没有说明白,做PPAP时要求做初始能力研究,但这时样品(注塑产品)很少(几百个一个小时就完成了),抽样频次很密(可能二、三分钟就要抽一次),CPK>3是很经常的事情,这时计算的UCL和LCL是很小的,正常生产时,再不可能用这样的抽样频次了,可能时间会放宽到原来的十倍或更多(如二个小时),这个时候CPK会变化,但我以为这很正常(因为我的CPK已经足够,低一点也没关系),过高的CPK对我并没有任何意义,从成本上来讲,只要使CPK>1。67就可以了,那么我是否可以反过来计算UCL和LCL来作为控制线呢,毕竟,3对我来讲除了多花成本之外没有任何的意义
  • zhu_x (2003-6-16 12:47:20)

    QUOTE:

    Originally posted by verry at 2003-6-16 11:14 AM:
    应该缩小公差,这才能持续改善,持续提高。


    理论上你的观点没有任何问题,但现实是有许多可以讨论的。
    如果这个已经控制得很好,顾客已经没有特别的要求,如果再缩小公差,公司利润何来呢?我为什么不去减少成本,我觉得这比缩小公差更是持续改善,不然的话,公司何以为继呢
  • zhu_x (2003-6-16 21:04:29)

    其它大虾有没有高见
  • 欧立威 (2003-6-17 10:24:51)

    QUOTE:

    Originally posted by zhu_x at 2003-6-16 12:38 PM:
    也许我在这个地方没有说明白,做PPAP时要求做初始能力研究,但这时样品(注塑产品)很少(几百个一个小时就完成了),抽样频次很密(可能二、三分钟就要抽一次),CPK>3是很经常的事情,这时计算的UCL和LCL是很 ...
    抽样频次密可能会多少影响一点你的CPK,但是不可能差别如此大,根据预先抽的数据计算UCL和LCL先算一个月,下个月可以用这个月的数据重新计算一下,基本上如果以后过程有人机料法环的任何变更都要重新定义管制界限。
  • system32 (2003-6-17 21:33:08)

    QUOTE:

    Originally posted by zhu_x at 2003-6-16 12:38 PM:
    也许我在这个地方没有说明白,做PPAP时要求做初始能力研究,但这时样品(注塑产品)很少(几百个一个小时就完成了),抽样频次很密(可能二、三分钟就要抽一次),CPK>3是很经常的事情,这时计算的UCL和LCL是很 ...
    你们做的很好啊,能有CPK>3的经验。
    不过你抽样频次很密带来的,可能你没有完全包含足够的变动因素,可以按你说的那样延长间隔时间取样。但应该重新计算,看Cpk的变化。如果还是足够大(我不认为>1.67是很高的,原因参见MOTO的长期能力1.5sigma漂移的意见)你可以用+-4sigma来计算UCL和LCL,然后只用规则一(出界判异)来控制就可以了。或者再延长抽样时间等方法,只要你做的足够好,其实怎么做都对。
  • ggao1 (2003-6-19 08:50:40)

    cpk过高可能是在进行初始能力研究时候的取样间隔太短,未能体现实际量产时的生产过程(应该有足够的量和跨过足够的时间段来体现实际生产状况),或者是设备精度过高而产品的要求又不太高。前一种情况就肯定是要改进的,后一种情况是过程能力过剩的体现,成本过高,我想可以减少检验的频次,定期做cpk的研究(三个月一次),或者改用精度差一点的设备来制造产品,然后实施real-time spc控制,这两种方法都可以满足客户的要求又可以节约成本
  • david2003 (2003-6-19 16:48:35)

    cpk大于3?我觉得也有点问题!是不是公差要求得太宽了?
    如果是这样,cpk值对你们的意义不大.
  • HKQM (2003-6-19 17:03:40)

    这么高的CPK要什么检验?!!!!

    可能统计失效

    可能根本没有公差要求

    可能仁兄要学习一下 嘻嘻◎◎◎~~~~~~~~~~

    如果是真的,我拜你为师,如何?
  • romaroad (2003-6-19 21:02:57)

    工程能力确实足够高,
    考虑检查频率减少或不检查是合道理的!
    你如果使用 4或5 SIGMA作为 UCL ,LCL 也可以,但收效应是不大的!
  • cd. (2003-6-19 21:17:11)

    QUOTE:

    Originally posted by zhu_x at 2003-6-15 10:59 PM:
    如果CPK过高,如大于3,应如何考虑SPC呢?
    这个时候还有必要按原来的指标做SPC吗?
    我想可以延长时间间隔,或者放大UCL和LCL,但不知道如何做才合适,希望得到各位大虾的指导,先谢谢了
    (Cpk-1.5)X3是可以许可的偏移。Cpk大,可以许可的偏移也就大,那么采样的频率和个数可以减小。我公司就是这样做的。
  • 6sqhxd1113 (2003-6-27 10:06:44)

    Cpk>3 是一件非常正常的事情,但与次对应是该过程应几乎没有相应的废品.如果情况不是这样,一般会存在两个问题:
    1.此时你算出来的Cpk是long term 还是short term.如果是短期的话,肯定会存在一定的风险.
    2.有可能存在采样的问题.这其中最主要的就是subgroup的选取.这其中样本容量的选取也必须计算其风险级数.
    如果一切都OK的话,为了降低Q-cost,当然可以选择减少监控的频次.
  • franknok (2003-6-27 11:15:37)

    if your process capibiliy CPK exceed 3, it's very excellent process, we can say your process has no defect now. but two points of view are needed to be highlighted for you. one is if your tolerance is too wide, maybe you can make more strict specification than your customer requirement. The other is you can cancel or optimize some non-value added activities in your process, such as inspection, repair and so on, you can save cost further.
  • sy_fang800 (2003-6-27 11:46:27)

    我看可能是你的检验频率过高,或者检验的误差太大造成,
    LCL 和UCL 不是说放大就可以放大的,是有过程本身所决定的。
    所以你要在你的检验方面做文章
  • qgf00 (2003-6-27 12:28:11)

    如果过程是稳定的,可以考虑减少抽样量,很多公司通过这样降低了成本,提高了物流的时间,提高了生产效率
  • nicholas.wang (2003-6-27 13:53:56)

    如果是单侧公差,很正常。

    如果是双侧公差,建议你重新计算你的控制上、下限。