MSA中关于稳定性的分析

有一个资料上对测量系统的稳定性(漂移)解释如下:测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。研究的方法利用平均值和极差控制图来进行研究。哪位大侠能不能解释一下原理与具体的操作。
       另外有个简单的问题,R%R分析X/与SPC分析中的X/控制图有什么区别?怎么理解%R分析X/图中要有一半以上出界。
      谢谢!
我也来说两句 查看全部回复

最新回复

  • 6sqhxd1113 (2003-6-27 09:44:35)

    我们都知道,X/控制图中控制线是3sigma.不论是SPC还是GRR,但是唯一有区别的是,在GRR中的sigma不是测量值的标准偏差,而是测量系统偏差的标准偏差,所以在Minitab中表述的是Gage的sigma.
    而GRR中X/要有一半以上的点要出界,这也很好理解,在正常的SPC控制中我们不希望其出界因为这样才显示其过程的稳定,但在GRR中我们希望它出界因为我们希望它更多反映过程的误差而不是测量系统的误差.因为总误差为100%,测量系统的误差小自然过程误差大,那自然X/图中超界的点多!
  • sweidong (2003-6-27 10:22:56)

    楼上的说的没错;
    另外在做测试系统分析时还要考虑所选样品的95%的制程稳定性,而SPC管制是长程的,它不存在着95%制程稳定性的要求(但在一次取样中有此项要求);同时SPC过程控制中存在1.5sigma的制程波动。
  • Dragonhlj (2003-6-27 10:49:10)

    谢谢二位的解释,我也看了很多资料上介绍说,SPC中的X/控制的界限使用整个流程的误差,而GRR上X/图的控制线用的是测量系统的偏差,所以希望有半数以上的值在控制线的外面,但它的原理是什么呢?公式是一样的呀。我现在想原因可能是数据的排列与分组的不同,X/控制图要求随机排列,但GRR中的X/图数据的排列为按照操作员/部件/部件的重复测量进行人为的顺序排列(以不同于SPC X/控制图的数据排列顺序)。二位能不能再进一步解释一下。如果O大师能够解释一下那更好了!!!在此先谢过O大师对我关于REGRESSION/MSA方面的指点。
  • 欧立威 (2003-6-27 10:50:56)

    QUOTE:

    另外有个简单的问题,R%R分析X/与SPC分析中的X/控制图有什么区别?怎么理解%R分析X/图中要有一半以上出界。
          
    GRR里的X-BAR图可跟XBAR管制图有区别,GRR里的XBAR管制界限其实不是管制界限,而是仪器本身对所有量测样品重复性的平均变异+/-3个SIGMA,数据点却是所有产品在不同操作员所测的平均值,这就是说代表着测试样品的变异,因而与仪器本身对所有量测样品重复性的平均变异相比一定是要大过它,数据点就一定会出界,如果数据点不出界,就是你所选用的样品本身的变异比仪器本身的变异还要小,这就象拿马蹄表去测不同类型的飞机的飞行速度,是不会有定量的结果的。
  • drinkingsnow (2003-6-27 14:37:25)

    QUOTE:

    Originally posted by 6sqhxd1113 at 2003-6-27 09:44 AM:
    我们都知道,X/控制图中控制线是3sigma.
    实际上,在MSA中为+/-2.575sigma;
    在SPC中,为+/-3sigma。
  • Dragonhlj (2003-6-27 14:53:58)

    高手呀!我验证了一下,RR控制线确实比SPC中的控制线窄,能不能详细讲一下两种控制线的原理?
  • dragonair (2003-6-27 19:18:31)

    QUOTE:

    Originally posted by Dragonhlj at 2003-6-27 14:53:
    高手呀!我验证了一下,RR控制线确实比SPC中的控制线窄,能不能详细讲一下两种控制线的原理?
    什么啊,晕

    5.15当然比6窄一点啊

    你在GRR中设定为5.15 标准差就代表了包含了99%变异区间
    你如果设定了6标准差 就代表了99.73%变异区间

    这个设定是控制你对你的测量设备的要求,如果是精密电子可能就会要求高一些可以用6标准差.

    你在应用SPC时同样可以选取用 5.15标准差啊

    没什么原理,因为都是一样的,呵呵
  • tonythb (2003-6-27 21:33:10)

    小见多怪啊!