Gage R%R

最新回复

• stdev (2003-7-06 11:21:58)

  我认为两者的侧重点是不同的， Gage 取样只是针对measure value , SPC 针对产品公差。
  应该是流程稳定性对Gage R&R 有要求。

• 质量厨师 (2003-7-07 09:51:13)

  Gage R&R是对测量系统地分析，SPC市统计过程控制。怎么进行对比的？

• sb_sigma (2003-7-07 11:24:10)

  楼上说的对， 这两个东东的针对性不同， 但都能用来提高工艺。

• aresma (2003-7-07 12:25:52)

  Gage R&R 应该是对测量系统的再现性和可重复性的一种判定，个人认为Gage R&R 在一定的情况下才会用到。比如，需要对某批工艺改进的产品进行分析时，测量系统修复后重新投入使用时等等。
  
  SPC是一种很广泛的控制，如对生产线工艺、过程、人员等的判定，也可以包括Gage R&R，因为Gage R&R是对测量系统的一种判定。

• eilein (2003-7-07 12:50:50)

  Gage R&R可以用来证明SPC所用数据的可信性，是SPC的能够正确发挥作用的一个前提。

• 李俊虎 (2003-7-07 13:31:05)

  xiexie

• aresma (2003-7-07 14:23:08)

  的确是，SPC的统计要基于很多的基础。
  
        对于国内的企业或生产线而言，运行SPC有许多的因素制约：人员，设备，材料，工艺等等。
  
        如果一个设备的Gage R&R不行，有没有办法确认确实是该设备不行，用Gage R&R统计出来的数据能做出说明么？如何确认？生产设备的厂家承认用Gage R&R的数据么？

• zsst (2003-7-08 11:56:16)

  SPC 可以說包含有 Gauge R&R. CPK. PPK .CMK 的相關動作.

• tonythb (2003-7-08 14:10:45)

  打一比方吧。
  让一个色盲去区别不同色彩的花儿，可以吗？
  GR&R就是去看量具是不是色盲，
  如果他不是色盲，让他去分析花儿色彩的变化是稳定的吗，就用SPC？
  即GR&R是分析量具的变异与产品变异比起来是不是够小？
  SPC是看产品的变异是不是正常的？
  当然先要做GR&R，因为SPC中所用的变异其实是产品变异与量具变异的合成，你清楚了吗？

• 欧立威 (2003-7-08 15:34:23)

  很有创意的比方,但不知道Dragonhlj明白了没有啊?
  要学会读懂GRR的Six pack chart.
  里面的X-BAR,R chart 能告诉你一些什么呢?

• tonythb (2003-7-08 16:05:51)

  谢谢，
  oliven, 不知你是否有MSA第三版的教材，其中关于计数型KAPPA分析方法中，讲到虚发警报和漏发警报的地方不知你是否清楚，请指教。教材的算法是否有误呢？

• Dragonhlj (2003-7-08 19:34:05)

  tonythb:
      谢谢！非常形象的比喻，哈哈！我懂了，也感觉很有趣，很高兴！
       我现在可以看懂GRR的Six pack chart，但还不能很准确的解释X/与R图与SPC中的X/与R的原理上的差别！能不能解释一下？

• openwon (2003-7-08 20:03:24)

  简单一句话，做好测试系统的Gage R&R,确定测试系统的可信性，在这个基础上实施SPC控制，才是正确的实施过程。这是SPC控制的分析结果才是实际生产的表现。
          那为什么感觉国内很多公司没有做Gage R&R 就直接运用SPC控制，很简单一方面是相关管理人员知识水平的问题；另一方面就是测试结果是对机器的依赖性很高，测试设备都通过计量局认证，很多人默认机器设备是稳定的，而对于人的不确定因素相对依赖非常底。

• tonythb (2003-7-09 10:37:13)

  要清楚SPC与R&R中控制图的区别很简单，先须要弄清控制图的原理，
  XBAR图中的控制限计算是根据普通原因影起的变差来确定的，在SPC中普通原因变差反映的是制程的普通原因变差，而在RR中则反基于量具重复测量的变化，即组内变异。对于SPC而言，组间变异是指组与组之间样品均值的变化，而对于RR来说是指产品的变异。
  所以SPC是要求组间变异与组内变异相差不大，才能说明是稳定的；
  而对于RR，则要求产品变异相对于组内变异(量具的重复性)要很显著，才能说明量具有足够的能力侦测出产品的变化
  唉，也不知说清楚没有，一直在想一个形象的例子，想不出来，谁帮帮忙吧。

• yngbng (2003-7-09 12:47:31)

  good

• Dragonhlj (2003-7-09 12:53:10)

  这个我一直没有绕过弯来，如果从分组/控制限的计算/数据点三个方向来分析：
               分组：SPC根据检验顺序进行分组，而R%R则根据检验员/PART进行分组（不是随机的检验顺序）；
                控制限的计算 ：二者的公式应该都是一样的；
                数据点：都是组内的平均值，但SPC与R%R的分组规律不一样。
        能不能根据以上的不同来解释一下他们的区别呢？
  
       另外，tonythb能不能看一下下面的问题（O大师讲过，可我没有弄懂）
      我们在计算CPK是会遇到数据不是正态分布的（数据收集没有问题/BOX-COX转换也不行），那么我们应该怎么计算我们的CPK与PPK？（WEIBULL只能计算PPK）
           谢谢！

• 欧立威 (2003-7-09 13:33:27)

  QUOTE:

  Originally posted by Dragonhlj at 2003-7-9 12:53 PM:
  tonythb能不能看一下下面的问题（O大师讲过，可我没有弄懂）
      我们在计算CPK是会遇到数据不是正态分布的（数据收集没有问题/BOX-COX转换也不行），那么我们应该怎么计算我们的CPK与PPK？（WEIBULL只能计算PPK）
           

  哈哈，我岂不是太失败啦！

• hwh8779 (2003-7-19 12:34:59)

  good idea

• zhou.j.p (2003-8-04 17:49:18)

  Gage R&R 是SPC的基础，作控制图之前，要求先通过Gage R&R 。

• rick (2003-8-09 13:58:57)

  GRR 的好坏直接影响到spc 得准确，SPC 中的数据由测量而来，测量系统的好坏决定了SPC是否真实的反映了过程的状况