关于测量系统的偏倚和线性分析,MSA高手请进

最新回复

• cccarhm (2003-7-23 12:46:45)

  把你们的具体情况和我说一下:
  我感觉你好象对MSA的使用不是很清楚.
  联系我:
  cccarhm#hotmail.com

• tonythb (2003-7-24 14:12:50)

  还有一种就是买基准啊

• ggao1 (2003-7-24 16:42:28)

  是计数型吧

• cccarhm (2003-7-24 17:11:37)

  计量型

• lilyliu (2003-7-24 17:35:41)

  ICT测试体现出来的结果是GO / NO GO, 但实际上是设定了参数范围的,而且也是可以得出具体的测量数据的.只是生产线100%测试时不用去看具体的数据而已.但在进行测量系统分析时应可将具体测量的数据取出来进行分析.
  我的问题是不知如何选择基准值.
  难道是可以将零件的规格中位数作为基准值吗,如规格为12±5和零件,是否可直接将12作为参考值?
  标准件是没有的啦.更高精度的仪器也没有,所有不知怎么办.

• lilyliu (2003-7-24 19:44:09)

  你说那个我看见了,可是由谁来测?日常操作者?测量系统分析者?用被分析的测量系统中的量具?

• lilyliu (2003-7-24 21:54:30)

  如果是这样做都行的话,那就简单啦!
  但不知这样真的行不行,我担心认证机构不会接受这种作法!

• lilyliu (2003-7-25 08:51:35)

  QUOTE:

  Originally posted by jinzhoujun at 2003-7-24 10:30 PM:
  我从MSA书上看的,第三版page73

  你的书是不是D版呀,为什么我刚从品士邮购回来的书没有你所说的内容.麻烦你说清楚是第几章第几节好吗?

• lilyliu (2003-7-26 14:29:05)

  第一次你说"我从MSA书上看的,第三版page73 ",我确认过了的确没有此内容.
  现在你说在第三章第二节,这个指"独立样件法",这个我知道.但我的书是在85页,所以有此误会,见谅.
  这个独立样件法我研究过,问题是手册原文说"在工具室里测量该零件N>10次",根本是这个工具室把我难倒了.如果照你的意思就可理解成为如下:
  用被研究的量具进行测量,由测量系统分析者(工程师?)进行测量,N>10次测量后的数据平均值作为参考值.
  如果是这样,是否在工具间测有何区别?
  如果真是这样可以运作,那就简单啦.
  
  [ Last edited by lilyliu on 2003-7-26 at 14:49 ]

• tbjinxin (2003-11-23 21:59:05)

  电子自动分类机也遇到了同样的情况。真不知道线性分析怎么做。

• huadingchen (2003-11-24 11:40:55)

  据我所知, ICT 的测量结果是非常粗糙的, 而且每次测量都有很多变差, 更重要的是, 探针是易损件.
  
  我不知道你的测试点有多少, 如果有 100个测试点, 你以那一个来作为分析的对象呢?
  
  另外ICT的根本目的在于区分元件是否错, 反方向, 空等故障, 他根本不能精确的区分元器件的等级. 你可以看一下 ICT 的规格.
  
  另外做线性要有覆盖量程的样品, 你会有这样的样品吗? 因为不同的产品其针床一般不同. 这样你的量具就变了
  
  考虑这些问题, 如果是我, 我会用 GO/NO_GO 的方式来分析, 即用计数型的方法. 一个测试点一个.
  
  要不然, 针对每个产品, 做一个标准件, 用精密的仪器确定每一个测试点的基准值, 然后按自动机器的方式,来分析. 最好修正 ICT 的测试程序, 可以自动分析.
  
  关于精密的仪器, HP4284 是不错的 LCR 表, FLUKE 8842/HP 34401 是不错的万用表, 它们测出来的值比较可信.

• hellen8899 (2003-12-26 11:06:35)

  QUOTE:

  Originally posted by lilyliu at 2003-7-25 08:51 AM:
  你的书是不是D版呀,为什么我刚从品士邮购回来的书没有你所说的内容.麻烦你说清楚是第几章第几节好吗?

  看看msa第三版的page73页，写的很清楚了呀！！不过第三版的线性计算excel档，谁有，可否发给我！！   heuen#cptw.com.cn

• alexwong (2003-12-26 12:10:21)

  ICT是GO-NO GO 计数型量具，做小样法即可。